視(shi)(shi)覺系統(tong)一般由3臺相(xiang)互(hu)獨立(li)的(de)(de)CCD成像單元、光(guang)源、圖像采集卡、圖像處理專(zhuan)用(yong)計算機(ji)(ji)和主控計算機(ji)(ji)系統(tong)等單元組(zu)成。為了適應不同元器件，提高視(shi)(shi)覺系統(tong)的(de)(de)和速(su)度，把(ba)檢(jian)(jian)測對(dui)(dui)中(zhong)像機(ji)(ji)設計成為針對(dui)(dui)小型Chip元件的(de)(de)小視(shi)(shi)野(ye)高分辨力的(de)(de)照相(xiang)機(ji)(ji)CCD1和針對(dui)(dui)大(da)型IC的(de)(de)大(da)視(shi)(shi)野(ye)低分辨力的(de)(de)照相(xiang)機(ji)(ji)CCD2，CCD3為基準定位（MARK點搜(sou)尋）照相(xiang)機(ji)(ji)。當吸嘴(zui)中(zhong)心到達(da)檢(jian)(jian)測對(dui)(dui)中(zhong)像機(ji)(ji)的(de)(de)視(shi)(shi)野(ye)中(zhong)心位置(zhi)時(shi)發(fa)(fa)出觸(chu)發(fa)(fa)信號獲取圖像，在觸(chu)發(fa)(fa)的(de)(de)同時(shi)對(dui)(dui)應光(guang)源閃亮。

當(dang)一塊新的(de)(de)待貼(tie)(tie)(tie)裝(zhuang)(zhuang)PCB通(tong)過送板機(ji)(ji)構傳送到(dao)指定位(wei)置(zhi)圃定起(qi)來，安(an)裝(zhuang)(zhuang)在(zai)貼(tie)(tie)(tie)片(pian)頭(tou)上的(de)(de)基準（MARK點）照(zhao)相(xiang)機(ji)(ji)CCD3在(zai)相(xiang)應(ying)的(de)(de)區域通(tong)過圖像識別算(suan)法搜尋出MARK點，并(bing)由系(xi)統(tong)軟件(jian)(jian)計(ji)算(suan)出其(qi)在(zai)坐標系(xi)中(zhong)的(de)(de)坐標，同時將相(xiang)應(ying)的(de)(de)元器(qi)件(jian)(jian)應(ying)貼(tie)(tie)(tie)裝(zhuang)(zhuang)的(de)(de)位(wei)置(zhi)數據送給主控計(ji)算(suan)機(ji)(ji)。當(dang)相(xiang)應(ying)的(de)(de)貼(tie)(tie)(tie)裝(zhuang)(zhuang)元器(qi)件(jian)(jian)拾取(qu)(qu)后(hou)，經過元件(jian)(jian)照(zhao)相(xiang)機(ji)(ji)時， 照(zhao)相(xiang)機(ji)(ji)對元器(qi)件(jian)(jian)檢(jian)測，得到(dao)其(qi)在(zai)拾取(qu)(qu)后(hou)位(wei)置(zhi)坐標并(bing)送給主控計(ji)算(suan)機(ji)(ji)，與(yu)目標位(wei)置(zhi)比(bi)較，得到(dao)貼(tie)(tie)(tie)裝(zhuang)(zhuang)頭(tou)應(ying)移動的(de)(de)位(wei)置(zhi)和(he)(he)轉角，在(zai)貼(tie)(tie)(tie)裝(zhuang)(zhuang)前進行位(wei)置(zhi)和(he)(he)轉角的(de)(de)調(diao)整，從而實(shi)現(xian)視覺對中(zhong)的(de)(de)目的(de)(de)。

1一(yi)貼(tie)片頭2一(yi)吸嘴 3一(yi)元(yuan)件(jian) 4一(yi)印(yin)制板定(ding)位(wei)標記（MARK） 5—PCB 6一(yi)元(yuan)件(jian)貼(tie)裝位(wei)置 7－元(yuan)器(qi)件(jian)照相(xiang)機(ji) 8-MARK點照相(xiang)機(ji)

激光檢測(ce)是指從光源產生一適中(zhong)的光束照射(she)在(zai)元件上來測(ce)量元件投射(she)的影響。這種方法可(ke)以測(ce)量元件的尺寸、形(xing)狀以及(ji)吸嘴中(zhong)心軸的偏差(cha)。

激光檢(jian)測優點(dian)是速度(du)快，因為元(yuan)件不需要(yao)從攝像機(ji)上方走過(guo)。但(dan)其主要(yao)缺陷是不能對引腳(jiao)和(he)密腳(jiao)元(yuan)件作引腳(jiao)檢(jian)查，因此主要(yao)用于對片狀元(yuan)件的檢(jian)測。

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